X射線熒光光譜分析儀ZSX Primus IVi是基于ZSX Primus IV中研發的新硬件和軟件技術，這是一種下照式X射線熒光光譜分析儀。 只需(xu)將液(ye)體樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)倒入覆(fu)蓋有(you)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)膜的樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)池(chi)中，就可(ke)以輕(qing)松地(di)對其進(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)量。 此外，只需(xu)將測(ce)(ce)(ce)(ce)量面朝下放置(zhi)在樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)架上，即可(ke)輕(qing)松測(ce)(ce)(ce)(ce)量盤狀合金(jin)，電鍍(du)板和玻璃(li)板等樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)。 對于難(nan)以加(jia)壓成型的顆粒狀樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)，小(xiao)(xiao)體積樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)，小(xiao)(xiao)尺寸碎片等，將它們直(zhi)接放置(zhi)在樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)池(chi)的膜上并(bing)進(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)量，測(ce)(ce)(ce)(ce)量貴重樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)無(wu)需(xu)進(jin)行(xing)(xing)樣(yang)(yang)(yang)(yang)品(pin)(pin)處理(li)加(jia)工。 可(ke)以在使用高(gao)分辨(bian)率相(xiang)機觀察(cha)樣(yang)(yang)(yang)(yang)本圖像的同時執(zhi)行(xing)(xing)分析位置(zhi)和進(jin)行(xing)(xing)映射測(ce)(ce)(ce)(ce)量。

輕松共享應用程序

通(tong)過在(zai)上照式ZSX Primus IV和(he)下照式的ZSX Primus IVi之間共(gong)享(xiang)通(tong)用的硬件和(he)軟件平臺，可以輕松(song)地在(zai)兩個模(mo)型(xing)和(he)相(xiang)同模(mo)型(xing)之間共(gong)享(xiang)應用程序(xu)。

具有高級自動判斷功能的SQX分析

SQX分析(xi)是利用定性(xing)分析(xi)結果進行定量分析(xi)的折疊式(shi)FP分析(xi)。

1、評估重元(yuan)素(su)產(chan)生的(de)高階線的(de)影響，自動選擇較好測(ce)量(liang)條件，實(shi)現(xian)更準(zhun)確的(de)SQX分析

2、EZ掃描追加(jia)檢測(ce)(ce)微量元素的(de)定角測(ce)(ce)定設(she)定模式

3、EZ掃描配置測定時間(jian)2分(fen)鐘以內(nei)的超高速模式

4、對應多層(ceng)膜樣(yang)品(pin)的篩選分析

5、可將任何(he)樣(yang)品膜添加到樣(yang)品膜校正

6、SQX散射射線FP分析（適(shi)用于粉(fen)末/聚合(he)物）也支持30mm直(zhi)徑

7、在SQX再計算(suan)時(shi)可(ke)以(yi)變更為SQX散射線FP分析

快速替代氦氣

通(tong)過(guo)在(zai)樣(yang)品(pin)(pin)室(shi)(shi)和分光(guang)鏡(jing)室(shi)(shi)之間增加一個真空隔板(ban)，可以減少用氦氣置換所需的時間。 另外，通(tong)過(guo)追加液體樣(yang)品(pin)(pin)架檢測機構，可以放心地在(zai)真空氣氛中導(dao)入液體樣(yang)品(pin)(pin)。

輕型元件的氣體保護比例計數器S-PC LE

使用氣體保護(hu)探(tan)測(ce)(ce)器進行分析時無氣體排放。 無需為檢測(ce)(ce)器安裝氣瓶。

使用WDX系統進行點/映射分析

r-θ驅動的樣品臺可在不映射(she)100μm位置分(fen)辨率的情況下根據測(ce)量點(dian)改變X射(she)線(xian)強度，從而(er)能夠(gou)分(fen)析(xi)印刷電路(lu)板上的布線(xian)并分(fen)析(xi)微小的零件，例(li)如各種(zhong)材(cai)料(liao)的夾雜物等微部分(fen)析(xi)。