ZSX Primus Ⅳ+熒(ying)光光譜儀概述：
X射線(xian)熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi)的(de)(de)分析(xi)裝(zhuang)置(zhi)具備支(zhi)持測(ce)定、解析(xi)的(de)(de)“ZSX Guidance"，即使是初學者也(ye)能(neng)簡單地得到正確的(de)(de)分析(xi)結果。通過數字計(ji)數系統、高速驅動的(de)(de)測(ce)距計(ji)、優化的(de)(de)控制(zhi)系統，實現高速、高精度測(ce)量。通過人(ren)工(gong)多層(ceng)累積膜(mo)和真空(kong)控制(zhi)機構也(ye)可以進行超輕元素測(ce)量。這是一款搭載了防人(ren)類錯誤功能(neng)等安(an)心、安(an)全設計(ji)、點映(ying)射分析(xi)和散射線(xian)SQX功能(neng)的(de)(de)高規(gui)格(ge)機型。
采用了可以放心進行例程分析的上表面照射方式。即使粉末樣品中的粉末飛散，也不會對光學系統產生影響。為了保護樣品，不需要膠卷。
X射線熒光光譜儀
X射線熒(ying)光光譜儀特性：
1、定量應用程序(xu)自(zi)動設(she)置功能(neng)
只(zhi)需輸入(ru)標準樣品(pin)的(de)(de)標準值(zhi)和樣品(pin)信息，即(ji)可自動設定分析線、光學(xue)系統的(de)(de)設定、共存(cun)元素校正、重(zhong)疊(die)校正，初學(xue)者也可輕松保存(cun)校準線。
2、用于膜厚、附著量分(fen)析(xi)的測(ce)量線檢索(suo)、分(fen)析(xi)評價程序
可以(yi)得到精度分(fen)析(xi)的(de)分(fen)析(xi)線(xian)的(de)組合、分(fen)析(xi)線(xian)的(de)分(fen)析(xi)深(shen)度信(xin)(xin)息、上層吸收比例的(de)模擬結果(guo)和干擾線(xian)的(de)信(xin)(xin)息。
3、操作性“輕松(song)分析"
通(tong)過(guo)匯總日常(chang)例程分(fen)析所(suo)需操作的(de)“輕松(song)分(fen)析"，可簡(jian)單(dan)調(diao)用(yong)一系列分(fen)析設(she)置(zhi)，或將頻繁使(shi)用(yong)的(de)應(ying)用(yong)程序注冊(ce)到“收藏"中。
4、快速(su)分析
通過(guo)對樣品的高(gao)(gao)速(su)搬運、高(gao)(gao)速(su)驅動的計算器、高(gao)(gao)速(su)數(shu)據處理、高(gao)(gao)效(xiao)的各驅動部的控制，提(ti)高(gao)(gao)了吞吐(tu)量(liang)(liang)。定性分析時間(jian)(jian)約為40%，定量(liang)(liang)分析可縮短約20%（與本(ben)公司相比），每單(dan)位時間(jian)(jian)可增加樣品處理數(shu)量(liang)(liang)。
5、高精(jing)度(du)測(ce)量
X射線計(ji)數(shu)(shu)(shu)系統采用數(shu)(shu)(shu)字多通道分析(xi)器（D-MCA）。通過高速數(shu)(shu)(shu)字處理實現(xian)了(le)高計(ji)數(shu)(shu)(shu)率范(fan)圍內的計(ji)數(shu)(shu)(shu)線性(xing)，提高了(le)分析(xi)精度。大計(ji)數(shu)(shu)(shu)率（計(ji)數(shu)(shu)(shu)線性(xing)1%）：SC 1800 kcps、FPC3000kcps
6、防止人為錯誤
您可(ke)(ke)以為每個操作人(ren)員設置訪問軟件(jian)的(de)(de)級別。這樣就可(ke)(ke)以防止由于新手操作失(shi)誤(wu)而導致的(de)(de)數據(ju)庫(ku)變更和刪除(chu)。程(cheng)序(xu)菜單的(de)(de)顯示和隱(yin)藏設置可(ke)(ke)以根據(ju)用戶級別仔細選擇，防止人(ren)為錯誤(wu)。
7、WDX系統中的點映射分析
配備了高分辨率照相機，可以清晰地顯示樣品整體圖像中部分的放大圖像。這樣，即使在微細區域也能正確位置。另外，通過r-θ樣品階段，可以以相同的靈敏度測量所有測量位置，因此可以進行正確的分析。
X射線熒光光譜儀
