xrf熒光光譜儀是(shi)德國斯派克(ke)分(fen)(fen)析儀器公司新(xin)開發的(de)(de)(de)具有超高速元素(su)分(fen)(fen)析能力的(de)(de)(de)手持式(shi)X熒光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜儀，可(ke)滿足(zu)多種(zhong)金屬基(ji)體材料以及土壤(rang)，塑膠，礦石(shi)等多種(zhong)復雜材料的(de)(de)(de)光(guang)(guang)譜化學成分(fen)(fen)分(fen)(fen)析需(xu)要。以其(qi)的(de)(de)(de)分(fen)(fen)析速度(du)，媲美實驗室級的(de)(de)(de)分(fen)(fen)析精度(du)和便于操作的(de)(de)(de)特點為同類型手持式(shi)光(guang)(guang)譜分(fen)(fen)析儀設立了新(xin)的(de)(de)(de)標準(zhun)。

新一代SPECTRO xrf熒光光譜儀在繼承既有的高性價比，高效能優點基礎上，更針對客戶精確定位分析的需要增加了可視化CCD攝像頭以滿足小焦點精確定位分析的要求，測試點的影像可以和分析結果一起保存在系統內存中，一體化集成GPS定位可以將測試點經緯度坐標信息同測試結果一起保存，便于回溯，大的提升了工作效率。

① 可在大氣中(zhong)現(xian)場快速無損的（2秒顯(xian)示牌號和(he)實驗(yan)室級的分(fen)(fen)析(xi)結果/額外增(zeng)加10秒可分(fen)(fen)析(xi)Mg，Al，Si，P，S）分(fen)(fen)析(xi)檢(jian)測并鑒別(bie)出各種不銹鋼(gang)，低合金鋼(gang)，有(you)色(se)合金，金屬(shu)等(deng)(deng)材質中(zhong)的常量和(he)微量元(yuan)素含量，檢(jian)出限可達(da)幾個ppm，并可根據用戶應用需要進(jin)行擴展(zhan)，以滿足粉末，礦石，土壤等(deng)(deng)不同(tong)樣(yang)品更多的分(fen)(fen)析(xi)測試要求，測量元(yuan)素可達(da)47種。

② 設備體(ti)積小，重量輕，分析精(jing)度高，中(zhong)英(ying)文操作系統、集(ji)(ji)一體(ti)化程度高，可靠性佳，集(ji)(ji)多(duo)種應(ying)用于一體(ti)，特別(bie)適用于高精(jing)度材料成(cheng)分快速檢(jian)測。

③ 配(pei)有(you)(you)Peltier電(dian)制冷硅(gui)漂移SDD（Sillicon Draft detector）計(ji)數器(qi), 數據處理能力10倍于PIN二*管檢(jian)測器(qi)，可(ke)有(you)(you)效(xiao)防(fang)止(zhi)計(ji)數溢出造成(cheng)的(de)漏計(ji)。SDD技術(shu)顯著減(jian)少分析所(suo)占用的(de)X射線開(kai)啟時(shi)間(jian)，在同(tong)樣(yang)的(de)儀(yi)器(qi)使用條(tiao)件下(xia)可(ke)以測試(shi)更多(duo)的(de)樣(yang)品，有(you)(you)效(xiao)提升工(gong)作效(xiao)率。

④ 采用復合濾(lv)光(guang)片 (多金(jin)屬復合材料) 設(she)計, 顯著減(jian)少了(le)由于更換濾(lv)波片造成的(de)(de)分析時間(jian)的(de)(de)浪費（*高縮短(duan)5倍時間(jian)），采用不同的(de)(de)激發條件(jian)保證對(dui)元素(su)周期表(biao)中Mg – Th 的(de)(de)所(suo)有(you)元素(su)均有(you)理想的(de)(de)激發效果，減(jian)少了(le)操作時間(jian)，大幅度降低X射線(xian)對(dui)操作人員造成傷害的(de)(de)可能性, 是(shi)真(zhen)正意義上的(de)(de)安(an)全(quan)的(de)(de)快(kuai)速無損現(xian)場檢測設(she)備。

⑤ 配(pei)置FP快速定性, 半定量 (定量) 程(cheng)序。可對任何(he)*未知(zhi)的樣(yang)品進行(xing)‘解(jie)剖(pou)’分(fen)析。與其他(ta)同類儀器相比(bi)，FP更為(wei)接近(符合)實際，在此程(cheng)序中采用了數千(qian)種標準樣(yang)品，實測結(jie)果并予以固化。

⑥ 采用(yong)人機功效學原理，一(yi)體化的(de)(de)工業級電腦可以(yi)完(wan)成諸如：儀(yi)器控制，測試操作，自動識別，背底(di)扣(kou)減，譜峰(feng)重(zhong)疊，堆(dui)砌峰(feng) / 逃(tao)逸(yi)峰(feng)校(xiao)正，定量計算等操作功能(neng)。儀(yi)器采用(yong)分級密碼，重(zhong)要(yao)的(de)(de)數據(ju)(ju)得到保護。標(biao)準USB接(jie)口(kou)更方(fang)便數據(ju)(ju)傳(chuan)出(chu)。

⑦ 具備(bei)Interlock安全互(hu)鎖(suo)和硬(ying)體(ti)快(kuai)門。如未檢測(ce)到測(ce)試樣(yang)品(pin)，快(kuai)門互(hu)鎖(suo)裝(zhuang)置會于200毫秒內自(zi)動關閉快(kuai)門并同時切斷X射線，連鎖(suo)保(bao)護功能(neng)大(da)程度保(bao)護操(cao)作人(ren)員的(de)人(ren)身安全；快(kuai)門即為目前所(suo)有品(pin)牌中內置的(de)ICAL自(zi)校準樣(yang)品(pin)，自(zi)動校準儀器(qi)，自(zi)動修正偏差，無需外置自(zi)校準標樣(yang)，保(bao)證分析結果的(de)準確性。

⑧ 儀器(qi)在(zai)Windows CE操(cao)作系統上建立(li)斯派克的分析軟件(jian)，操(cao)作方便。采用人機功效學原理，譜圖匯編，自(zi)動識別，背底(di)扣減，譜峰(feng)重(zhong)疊，堆砌峰(feng)/逃逸(yi)峰(feng)校正。定性、定量功能強大。儀器(qi)采用分級密(mi)碼，重(zhong)要的數據得到保(bao)護(hu)。

⑨ 儀(yi)器具有多種校正模(mo)式(數學模(mo)型)(方法)，在定量(liang)分析中(zhong)可充分應用，以取得分析結果。方法包括(kuo): 基本(ben)參數法、盧卡斯(si)經驗系(xi)數法、質量(liang)吸收系(xi)數法、基體匹配校正等等。

⑩ 可(ke)視CCD攝像頭定(ding)位系(xi)統，可(ke)實(shi)時記(ji)錄所測(ce)樣品的(de)位置的(de)圖像并(bing)和測(ce)試數據一同(tong)保存。

檢測器

● SDD 硅(gui)漂移半導體檢測器

   Mn-K?能量(liang)分辨率：半峰寬<160eV

   輸入計數(shu)率*大(da)至250kcps

激發源

X射線管

   ●  銠靶

   ●  *大(da)50kV

    ●  *大125微安

快門安全連鎖機構

打開快(kuai)門前(qian)，自動(dong)(dong)檢測(ce)是否有(you)X射線泄漏，如(ru)未檢測(ce)到(dao)樣(yang)品，快(kuai)門將于200毫秒的(de)時間內自動(dong)(dong)關(guan)(guan)閉，關(guan)(guan)閉快(kuai)門的(de)同(tong)時儀器(qi)自動(dong)(dong)切斷X射線。

自動快門

具有硬體(ti)快(kuai)門，快(kuai)門關(guan)閉狀(zhuang)態(tai)下將射(she)線源與外界物(wu)理上(shang)進行(xing)隔離.

尺寸和重量

-高: 270 mm (10.7“)

-寬:  93 mm (3.7“)

-深: 230 mm (9.1“)

-重(zhong)量：儀器1.264公斤，包(bao)括(kuo)電池：380克(ke)

電源

- 可充(chong)電(dian)鋰聚(ju)合物(wu)電(dian)池操作(zuo)

- >4小時連續工作

- 100 - 240 V, +/- 10%, 50 / 60 Hz（變(bian)壓器/充電器）

- 分析時11W

- 待機時6W

操作

激發(fa)扳機在*一次結果顯示后即可松開。始終(zhong)按住(zhu)激發(fa)扳機直至檢(jian)測結束(shu)。（分析時(shi)間(jian)2秒或12秒）

Spectrometer control 光譜儀控(kong)制

- 一體化電腦

- Windows Mobile 操作系統(tong)

- USB卡槽

- Wireless LAN, USB 藍牙，無線局(ju)域網，

Software 軟件

- ICAL 標準化

- 數據(ju)(ju)管(guan)理(li)：以存儲數據(ju)(ju)后處理(li)

分析模式

-可選擇(ze)不同的結果顯示方式

-自動平均值計算

-計算標(biao)準偏差和(he)相對標(biao)準偏差

牌號鑒別

-基于(yu)以存儲的牌(pai)(pai)號(hao)庫的牌(pai)(pai)號(hao)鑒別

-基于選定的牌號(hao)進行牌號(hao)確認

-可選擇同時或分別顯示分析結果和牌號(hao)名稱

-牌號庫可方便(bian)地修(xiu)改或擴展

材料分選

-基于(yu)參考樣品的材料分選：是/不是

-可設定(ding)對稱或非對稱的(de)公差(cha)

-三種操作模式可選

-輸出報告

附件（隨機提供）

- 便攜箱

-儀器/電池背包

-2塊電池

-充電器/變壓器

- 消耗品

文件

- 操作手冊

- U盤

分析程序：

1、Standard”標準分析程(cheng)序(xu)：Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, In, Sn,

   &nbsp; Sb, Te, I, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Ta, W, Hg, Tl, Pb, Bi, Th, U

2、輕金屬分析程序： Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, 

  &nbsp;  In, Sn, Sb, Te, I, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Ta, W, Hg, Tl, Pb, Bi, Th, U

3、鍍銀層分析程序